对于样品表面的一些化学信息较为关注时,会采用表面分析技术,目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS),X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱仪(AES)等。
扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS)可以对样品表面形貌观察,表面元素分析,截面形貌观察,截面元素分析等,分析深度一般为微米(10-6m)级别。
X射线光电子能谱仪(XPS)和俄歇电子能谱仪(AES)可对样品进行表面元素分析,表面纵向元素分析,表面元素价态分辨,分析深度通常为纳米(10-9m)级别。
橡胶、塑料、胶黏剂、涂料、电镀液、油品、电子化学品、食品、药品、药物粉末、化妆品
检测样例分析
1、无机混合粉末元素分析(SEM-EDS)
2、镀层厚度及元素分析(SEM-EDS)